熱門關(guān)鍵詞：手持式光譜儀 便攜式光譜儀 X射線熒光光譜儀 光譜儀 光譜標(biāo)樣 油料光譜儀 粘度計(jì) 直讀光譜儀 ICP光譜儀 二手光譜儀租賃
儀器:135-0001-7008
標(biāo)樣:191-9553-7296
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廣州儀德公司專業(yè)銷售日本理學(xué)波譜，波譜不限于材料的形狀，應(yīng)用多領(lǐng)域金屬元素的測(cè)定分析。本文章簡(jiǎn)單介紹日本理學(xué)ZSXPrimusⅣ波長(zhǎng)X射線熒光光譜儀對(duì)巖石樣品的定點(diǎn)分析及面掃描分析，為礦石領(lǐng)域?qū)r石測(cè)定分析提供寶貴經(jīng)驗(yàn)。使用儀器分析室內(nèi)置的相機(jī)將巖石樣品中需要關(guān)注的測(cè)量范圍放大后進(jìn)行了分析。紅框內(nèi)擴(kuò)大了的范圍由右圖表示?？梢愿艿刂付y(cè)量位置。面掃3描分析結(jié)果微區(qū)測(cè)繪測(cè)繪數(shù)據(jù)的測(cè)繪視圖統(tǒng)合為以攝像圖和數(shù)據(jù)(圖、測(cè)量數(shù)據(jù))來表示。圖示種類有不同模式，可以采用有效的圖示。各測(cè)量點(diǎn)的Mg-Kα的譜線比較SQX方法做的定
簡(jiǎn)介：X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡(jiǎn)稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法。X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出的次級(jí)X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調(diào)查和研究，地球化學(xué)，法醫(yī)學(xué)，考古學(xué)和藝術(shù)品，例如油畫和壁畫。使用型態(tài)：XRF用X光或其他激發(fā)源照射待分析樣品，樣品中的元素之內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時(shí)候，
廣州儀德專業(yè)代理日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀，本次文章主要分享理學(xué)中其中一款X射線熒光光譜儀在開啟X射線管時(shí)出現(xiàn)下述故障現(xiàn)象?故障現(xiàn)象:無法開啟X射線?錯(cuò)誤級(jí)別:失敗發(fā)生部件:XG發(fā)生器錯(cuò)誤原因:與XG發(fā)生器通訊控制出錯(cuò)錯(cuò)誤代碼:11錯(cuò)誤及產(chǎn)生原因:X射線發(fā)生器沒有初始化,所以不能夠控制XG?維護(hù)信息:關(guān)閉ZSX軟件,并重新啟動(dòng)初始化。解決辦法1、按照儀器給出的維護(hù)信息,關(guān)閉ZSX應(yīng)用軟件,關(guān)掉主機(jī),過5分鐘后,重新開啟X熒光儀,ZSX應(yīng)用軟件正常運(yùn)行,X熒光儀主機(jī)正常初始化,儀器狀態(tài)正常?開啟X-ray時(shí),
廣州儀德公司專業(yè)代理日本理學(xué)ZSXPrimusⅡ型波長(zhǎng)色散X熒光光譜儀，今天分享ZSX PrimusⅡ波長(zhǎng)色散X熒光光譜儀在使用過程中頻繁出現(xiàn)X射線發(fā)生器發(fā)生異常狀態(tài)故障現(xiàn)象及故障處理，其錯(cuò)誤級(jí)別:失敗，出錯(cuò)部位:X射線發(fā)生器，錯(cuò)誤內(nèi)容:X射線發(fā)生器異常狀態(tài)，錯(cuò)誤代碼:23?（故障記錄如下圖片所示）故障處理1、首先排除光管散熱差造成的故障?清潔二次水(內(nèi)循環(huán)水)過濾器濾芯，恢復(fù)后，流量有所改善(3.75L/min-3.80L/min)，但是故障依然?2、補(bǔ)足二次水(內(nèi)循環(huán)水)水箱，并調(diào)節(jié)其水壓由0.32MPa-0.
廣州儀德公司專業(yè)代理日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀?，在理學(xué)光譜上得到廣泛用戶的好評(píng)與支持，日本理學(xué)波長(zhǎng)色散光譜儀應(yīng)用非常的廣泛：電子和磁性材料、化學(xué)工業(yè)、陶瓷及水泥工業(yè)、鋼鐵工業(yè)、非鐵合金、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油和煤、環(huán)境保護(hù)。同時(shí)檢測(cè)材料狀態(tài)也比較比樣性：粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。
日本理學(xué)ZSX PrimusⅡ型X射線熒光光譜分析儀，該儀器為上照式端窗型單道掃描儀，配備LiF200、PeT、Ge、RX25、RX45共五塊晶體，性能優(yōu)越，高精密度以及低檢出限，可測(cè)試從N~U的的所有元素的定量分析和半定量分析。
波長(zhǎng)色散x射線熒光光譜儀是利用原級(jí)X射線或其他光子源激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級(jí)X射線）。從而進(jìn)行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。它的優(yōu)點(diǎn)是不破壞樣品，分析速度快，適用于測(cè)定原子序數(shù)4以上的所有化學(xué)元素，分析精度高，樣品制備簡(jiǎn)單。X射線或其他光子源激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光（次級(jí)X射線）。從而進(jìn)行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長(zhǎng)色散型和能量色散型。波長(zhǎng)色散型XRF光譜儀由X射線管激發(fā)源，分
多數(shù)操作人員對(duì)日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程可能不大清楚或者并沒有具體的操作，儀德公司分享采用日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀對(duì)項(xiàng)目檢定方法操作實(shí)例，方便廣大用戶進(jìn)行學(xué)習(xí)，本方法來源于網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)供參考用，不做商業(yè)用。檢定項(xiàng)目操作實(shí)例以日本理學(xué)X射線熒光光譜儀為例，以表1為技術(shù)指標(biāo)，進(jìn)行分析測(cè)試。1、精密度測(cè)試精密度以12次連續(xù)重復(fù)測(cè)量的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD表示。每次測(cè)量都必須改變機(jī)械設(shè)置條件，包括晶體、計(jì)數(shù)器、準(zhǔn)直器、2θ角度、濾波片、衰減器和樣品轉(zhuǎn)臺(tái)位置等。上式中：s——n次測(cè)量的標(biāo)
根據(jù)JJG810-1993中華人民共和國(guó)國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程《波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀》，對(duì)儀器進(jìn)行檢定/校準(zhǔn)，在確保各項(xiàng)指標(biāo)合格的前提下，儀器方可投入使用。本文對(duì)檢定中涉及的指標(biāo)進(jìn)行具體實(shí)驗(yàn)分析統(tǒng)計(jì)，給出詳細(xì)的統(tǒng)計(jì)結(jié)果。并對(duì)檢定的項(xiàng)目進(jìn)行了探討，為下一步檢定規(guī)程的修訂提供了建議。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程1993年的版本一直沿用至今天，但是X射線熒光光譜儀已經(jīng)進(jìn)行了飛速的發(fā)展，如今的波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀器已經(jīng)發(fā)展到了波譜、能譜和微區(qū)掃描三者相結(jié)合的大型儀器，具備了更優(yōu)異的檢測(cè)性能和新增了掃描性能，并且隨著國(guó)
多數(shù)人到現(xiàn)在還不清楚如何的區(qū)分波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型光譜儀的之間的區(qū)別到底有哪一些不一樣的，本文中使用表格的形式簡(jiǎn)單的介紹兩者之間的原理結(jié)構(gòu)，一分鐘快速掌握其中的奧秘。項(xiàng)目波長(zhǎng)色散型能量色散型原理X熒光經(jīng)晶體分光，在不同行射角測(cè)量不同元素的特征線X熒光直接進(jìn)入檢測(cè)器，經(jīng)電子學(xué)系統(tǒng)處理得到不同元素(不同能量)的X熒光能譜結(jié)構(gòu)為滿足全波段需要，配置多塊晶體，根據(jù)單道掃描和多道同時(shí)測(cè)定的需要，設(shè)置掃描機(jī)構(gòu)和若干固定通道無掃描機(jī)構(gòu)，只用一個(gè)檢測(cè)器和多道脈沖分析器，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單得多，無轉(zhuǎn)動(dòng)件，可靠性高X-光管高功
日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型X射線熒光光譜儀兩款產(chǎn)品各有獨(dú)自的優(yōu)勢(shì)，針對(duì)不同類的樣品檢測(cè)各有著長(zhǎng)處之處，波長(zhǎng)色散型X熒光光譜儀在分析上有著很高的精確度和精密度，能量色散型多數(shù)用去牌號(hào)的快速檢測(cè)和篩選。下面從這兩款光譜儀的原理與功能介紹它們之間的存的區(qū)別有哪些。
日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型熒光光譜儀(WD-XRF),一般由光源(X-射線管)、樣品室、分光晶體和檢測(cè)系統(tǒng)等組成。為了準(zhǔn)確測(cè)量衍射光束與入射光束的夾角，分光晶體系安裝在-一個(gè)精密的測(cè)角儀上，還需要一龐大而精密并復(fù)雜的機(jī)械運(yùn)動(dòng)裝置。由于晶體的衍射，造成強(qiáng)度的損失，要求作為光源的X射線管的功率要大,一般為2~3千瓦。但X射線管的效率極低，只有1%的電功率轉(zhuǎn)化為X射線輻射功率,大部分電能均轉(zhuǎn)化為熱能產(chǎn)生高溫,所以X射線管需要專門的冷卻裝置(水冷或油冷)，因此波譜儀的價(jià)格往往比能譜儀高。
ZSX Primus Ⅱ波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀在使用過程上假如出現(xiàn)了PC探測(cè)器的PHA調(diào)節(jié)不能正常進(jìn)行怎么處理，廣州市儀德科學(xué)儀器有限公司工程師教你一招，自己也可以進(jìn)行故障排除。故障現(xiàn)象：進(jìn)行PHA日常調(diào)節(jié)時(shí)，PC探測(cè)器微分曲線譜峰太低，嚴(yán)重變形，無法計(jì)算分辨率、“錯(cuò)誤內(nèi)容”提示“因?yàn)槊}高微分曲線的譜峰太低，所以不能進(jìn)行PHA調(diào)節(jié)”，“維護(hù)信息”顯示：“可能使用了錯(cuò)誤的PHA調(diào)節(jié)樣品，或者PHA調(diào)節(jié)的條件設(shè)置錯(cuò)誤”。
ZSX Primus Ⅱ 波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀在檢測(cè)過程中由于不正確的使用或者沒有定期的進(jìn)行維護(hù)保養(yǎng)，容易造成機(jī)器的故障，下面跟大家分享ZSX Primus系列中二代波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀在分析中出現(xiàn)X光管故障的現(xiàn)象、產(chǎn)生的原因與最終解決的二種方法。第一故障現(xiàn)象：正常使用過程中，X光管忽然關(guān)閉。“錯(cuò)誤內(nèi)容”提示“X射線發(fā)生器發(fā)生異常”，“維護(hù)信息”顯示：“探測(cè)到X射線發(fā)生器有異常情況”。原因分析：X射線發(fā)生器本
進(jìn)口ZSX Primus Ⅱ色散型X射線熒光光譜儀是日本理學(xué)推出的波長(zhǎng)熒光光譜儀，性能先進(jìn)，操作方便，已 廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、鋼鐵、冶煉、醫(yī)藥等多領(lǐng)域。但在實(shí)際使用過程中有時(shí)會(huì)出現(xiàn)這樣那樣的故障，影響正 常測(cè)試工作的及時(shí)性和測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性，文章針對(duì)ZSX Primus Ⅱ波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀的初始化無法進(jìn)行的兩個(gè)常見的故障現(xiàn)象進(jìn)行介紹，介紹故障出現(xiàn)的問題、原因分析及解決方法，希望對(duì)大家有所幫助。初始化無法進(jìn)行故障一故障現(xiàn)象：安裝新光管后主機(jī)與計(jì)算機(jī)不能連接，也沒有錯(cuò)誤信息提示。原因分析：錯(cuò)誤現(xiàn)象表明計(jì)算機(jī)系統(tǒng)探
理學(xué)多年的積累研制的Supermini200 小型波長(zhǎng)色散型儀器， 由高性能的硬件和最新軟件的完美結(jié)合，使得臺(tái)式機(jī)具有高精度、高穩(wěn)定的機(jī)能。Supermini200 波長(zhǎng)色散型臺(tái)式X射線熒光光譜儀檢測(cè)性能非常的高，同一個(gè)畫面上的分析、測(cè)量、結(jié)果確認(rèn)操作簡(jiǎn)單。Supermini200還配置了高功率200W的Pd靶陶瓷管，能夠進(jìn)行高靈敏度的分析。Supermini200波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀能快速解決各行業(yè)元素分析檢測(cè)問題，大大提高工作效率。下面簡(jiǎn)單介紹其中部分分析應(yīng)用：部分應(yīng)用1、含有稀土類重元素等氧化物的定性分
隨著用戶的需要也變得先進(jìn)和多樣化，理學(xué)集團(tuán)長(zhǎng)年以來的技術(shù)研發(fā)、工藝技巧、分析方法之精髓匯集于一體，不斷滿足用戶不斷改變的需求，理學(xué)集團(tuán)研發(fā)了先進(jìn)的XRF-ZSX Primus系列在各大行業(yè)中被廣泛的應(yīng)用。其中XRF-ZSX Primus/III+/IV 波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀在技術(shù)上更加的先進(jìn)，下面為大家簡(jiǎn)單介紹波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀在部分領(lǐng)域中的應(yīng)用。部分應(yīng)用1、鐵礦石分析 ASTM C114粉狀硅酸鹽水泥分析2、熔片法巖石分析3、FeCoNi合金元素分析4、低合金鋼、不銹鋼中Si,Mn,P,S,Ni,C
X射線熒光光譜分析在20世紀(jì)80年代初已是一種成熟的分析方法，是實(shí)驗(yàn)室、現(xiàn)場(chǎng)分析主、次量和痕量元素的首選方法之一。X射線熒光光譜儀（XRF）是利用原級(jí)X射線或其他光子源激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級(jí)X射線）,從而進(jìn)行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有波長(zhǎng)色散型和能量色散型兩種，適用于測(cè)定鈹 (Be)以上的化學(xué)元素的含量。它的優(yōu)點(diǎn)是不破壞樣品，分析速度快，分析精度高，樣品制備簡(jiǎn)單。X射線熒光光譜儀還可以用于微區(qū)分析及確定分層和涂層的厚度和成分。X-射線與物質(zhì)的交換XRF熒光光譜儀是可以
來源：分析測(cè)試百科網(wǎng)我國(guó)學(xué)者對(duì)不同時(shí)期WDXRF的進(jìn)展曾予以評(píng)述。WDXRF譜儀從儀器光路結(jié)構(gòu)來看，依然是建立在布拉格定律基礎(chǔ)之上，但儀器面目全新?？v觀30年來的發(fā)展軌跡，可總結(jié)出如下特點(diǎn) 。(1) 現(xiàn)代控制技術(shù)的應(yīng)用使儀器精度大幅度提升。WDXRF譜儀在制造過程中，從20世紀(jì)80年代起，一些機(jī)械部件為電子線路所取代，電子線路又進(jìn)而被軟件所取代。如一些儀器制造商分別用無齒輪莫爾條紋測(cè)角儀和激光定位光學(xué)傳感器驅(qū)動(dòng)測(cè)角儀，取代傳統(tǒng)θ/2θ齒輪機(jī)械運(yùn)動(dòng)的測(cè)角儀，2θ掃描精度也由齒輪機(jī)械運(yùn)動(dòng)的±0.001&d
X熒光光譜儀總而言之，建立適合用戶的標(biāo)準(zhǔn)樣品庫(kù)，才能將X射線熒光光譜儀的效能發(fā)揮到極致，雖然前期要做許多工作，例如收集樣品，樣品分析，標(biāo)準(zhǔn)樣品制備等工作，但“磨刀不誤砍柴工”。建立好自己面向應(yīng)用的標(biāo)準(zhǔn)樣品庫(kù)，可以讓自己的檢測(cè)做到事半功倍的效果。一、X熒光光譜儀測(cè)試方法： 1、X熒光光譜儀樣品制備進(jìn)行x射線熒光光譜分析的樣品，可以是固態(tài)，也可以是水溶液。無論什么樣品，樣品制備的情況對(duì)測(cè)定誤差影響很大。對(duì)金屬樣品要注意成份偏析產(chǎn)生的誤籌；化學(xué)組成相同，熱處理過程不同的樣品，得到的計(jì)數(shù)率也不同；
斯派克光譜儀安裝工作和地線的制作方法
X射線熒光光譜儀用于塑料及電子材料中鉛、鎘、（汞）等元素分析
德國(guó)斯派克直讀光譜儀SPECTRO MAXx(LMX06)簡(jiǎn)介
國(guó)外煉鐵生產(chǎn)及技術(shù)進(jìn)展
省級(jí)/區(qū)域級(jí)土壤中心實(shí)驗(yàn)室設(shè)備之全自動(dòng)土壤樣品制備系統(tǒng)
應(yīng)用PIMS技術(shù)測(cè)定低合金鋼中的酸溶鋁
德國(guó)斯派克光譜儀在化學(xué)工業(yè)分析中的應(yīng)用
儀德分享鉻毒膠囊檢測(cè)載體整體解決方案
手持式光譜儀有何作用
手持式光譜儀操作使用的注意事項(xiàng)
怎樣測(cè)定的直讀光譜儀精度？
光電直讀光譜儀和火花直讀光譜儀有什么區(qū)別嗎?
直讀光譜儀主要特點(diǎn)
直讀光譜儀和X熒光的區(qū)別及光密度
專注光譜10年：中國(guó)大的國(guó)內(nèi)進(jìn)口光譜標(biāo)樣倉(cāng)庫(kù)
儀德公司供應(yīng) 美國(guó)Brammer Standard Company, Inc.標(biāo)準(zhǔn)樣品
廣州儀德科技有限公司供應(yīng)國(guó)內(nèi)外光譜標(biāo)樣
2011斯派克光譜分析儀器使用應(yīng)用方面的培訓(xùn)計(jì)劃
儀德“一站式服務(wù)”助力應(yīng)對(duì)新《食品安全法》實(shí)施
手持式光譜儀隨時(shí)隨地分析元素成分
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儀德股份 儀德阿里巴巴站 波長(zhǎng)X射線光譜儀 德國(guó)斯派克直讀光譜儀 加工中心 電熱板 露點(diǎn)儀 全自動(dòng)氮吹濃縮儀 X光射線機(jī) 光譜儀租賃 涂層測(cè)厚儀 油料光譜儀
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